DTS 320 NVIS - Das Referenzgerät für NVIS-Messungen bei 0,01 fL
Speziell für den Test von Displays und Panels nach MIL-L-85762A bzw. MIL-STD-3009 wurde von Instrument Systems das DTS 320 NVIS konzipiert. Das Messsystem basiert auf dem scannenden High-End Spektralradiometer SPECTRO 320 mit gekühltem PMT3 Photomultiplier und der Teleskopoptik TOP 200.
Das DTS 320 NVIS bietet ein Optimum an Performance und hat als Referenzsystem einen festen Platz in der militärischen Luftfahrtindustrie und den offiziellen Testlabors eingenommen. Aufgrund der überragenden Messempfindlichkeit ist es möglich, die NVIS-Strahldichte auch bei 0,01 fL zu messen. Es ist zudem das einzige Spektralradiometer, mit dem der Wert für NVIS-Black von modernen LCD-Displays für Glass-Cockpits zuverlässig bestimmt werden kann.
Die hohe Scan-Geschwindigkeit und Signalempfindlichkeit des DTS 320 NVIS ermöglicht eine sehr genaue Bestimmung der NVIS-Strahldichte (NR-A, NR-B und NR-C) innerhalb von 1 Minute. In der Standard-Ausführung des DTS 320 NVIS befindet sich die Kühlung (-5º C) für den Photomultiplier im Gerät, was einen mobilen Einsatz begünstigt. Optional ist eine externe Kühlung auf -10º C mit weiter reduziertem Signalrauschen verfügbar.
Technische Spezifikationen DTS 320-202 NVIS:
DTS320-202 NVIS | |
|---|---|
Spektralbereich | 380 - 930 nm |
Wellenlängengenauigkeit | +/- 0.2 nm |
Spektrale Auflösung | 0,5 bis 10 nm programmierbar |
Maximale Empfindlichkeit Strahldichte | 10E-12 W/cm² sr nm |
Maximale Empfindlichkeit Leuchtdichte | 0,005 cd/m² bzw. 0,0015 fL |
Messzeit für Leuchtdichte und Farbort | 5 Sek. @ 1 cd/m² (0,3 fL) |
Messzeit für NVIS-Strahldichte | 1 - 2 min |
*) DFI: Direct-Fiber-Input für OFG-625 Faserbündel mit Querschnittswandler
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