DTS140 NVIS - Der neue Maßstab für Messungen nach MIL-L-85762A / MIL-STD-3009
Auf der Basis des weltweit sehr erfolgreichen CAS 140CT Array-Spektrometers wurde von Instrument Systems das DTS 140 NVIS für den Test von Displays und Panels nach MIL-L-85762A bzw. MIL-STD-3009 entwickelt. Ergänzt wird das Messsystem durch die Teleskopoptik TOP 200, mit der die Strahlungseinkopplung erfolgt.
Aufgrund der robusten Array-Spektrometer-Technologie eignet sich das DTS 140 NVIS vor allem für Anwendungen in der Produktion und Qualitätssicherung, wo ein harter Dauereinsatz bei gleichzeitig einfacher Bedienung gefordert wird. Automatisierte Messungen werden durch die Pass/Fail-Testfunktionen der SpecWin Pro Software ermöglicht.
Merkmale:
- Übertrifft die Anforderungen nach MIL-L-85762A / MIL-STD-3009
- Korreliert mit traditionellen Scannenden Spektralradiometern (für LED und auch Glühlampenhinterleuchtete Panels)
- Modifizierte Pritchard-Optik gewährleistet perfekte Messfleckpositionierung
- Integrierte Sucherkamera mit großem Bildfeld
- Per Software auswählbare Aperturblenden und Dichtefilter
- Neue SpecWin Pro Software für komfortable Analyse und Dokumentation der Messwerte
Technische Spezifikationen DTS140-235 NVIS:
DTS140-235 | |
|---|---|
Spektralbereich | 380 - 1040 nm |
Wellenlängengenauigkeit | +/- 0,5 nm |
Streulicht (für LEDs) | 5*10E-5 |
PC Schnittstelle | USB 2.0, optionale PCI Interface Karte |
Filterrad Dichtefilter | OD1 bis OD4 |
Polarisationsempfindlichkeit | < 0,4 % |
Messfleckgrößen mit | 0,075 / 0,15 / 0,3 / 0,5 mm |
Weiterführende Links
Die Technologie des DTS140 NVIS